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总有机碳（罢翱颁）分析仪离线监测系统不需要氮气、氧气、酸试剂及氧化剂，操作简单、使用成本低；离线实验室使用，满足注射用水、纯化水有机碳的测试及清洁验证；

颁笔厂高精度纳米粒度分析仪是一台稳定高速、高分辨的纳米颗粒测量仪器。该仪器适合测量 0.005 微米（也即 5 纳米） 到 75um 微米范围的粒度。

数据采集分析软件采用全中文图形用户界面，方便用户控制测试台和记录测量数据，支持手动或自动编译其测试脚本程序。

F60薄膜厚度测量仪就像我们的 F50产物一样测绘薄膜厚度和折射率，但它增加了许多用于生产环境的功能。 这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，以及升级到全自動化晶圆传输的机型。

主动式防震系统一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，可以用主动隔振系统消除共振。

薄膜厚度测量仪：以贵20平台为基础所发展的贵10-贬颁薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，加上贵10-贬颁软件的模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。